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半导体测试系统解决方案

     公司半导体业务以SIP、Mems测试向芯片封测领域拓展,并加大光板(包括FPC板、HDI板、IC载板)测试技术开发力度,加快半导体业务布局,向半导体测试领域进发。
     燕麦科技半导体测试系统解决方案,针对高精度、高产能的自动测试及分选需求,为客户提供SIP芯片、Mems自动化测试设备,融合自动化上料、SLT测试、取料于一体,技术稳定,性能可靠,有效为客户提高检测效率和产品品质。
     与此同时,基于SIP芯片测试一体化Turnkey需求,可为客户提供高性能芯片测试插座解决方案,解决客户在芯片测试方面对性能指标和经济指标间的平衡,实现效率和效益的最大化。

MEMS压力传感器实验室测试设备

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MEMS压力传感器FT测试设备

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TWS SiP 测试设备

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